- R.f. Egerton - -
R.f. Egerton - Physical Principles Of Electron Microscopy: An Introduction To Tem, Sem, And Aem
Brand: R.f. Egerton -
EAN:
9783319398761MPN: m03319398768
Kategorie: Bücher & Zeitschriften
Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2nd ed. 2016, Label : Springer, Publisher : Springer, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 196, publicationDate : 2016-07-07, authors : R.F. Egerton, languages : english, ISBN : 3319398768
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